A solução de Epsilômetro para medir as propriedades dielétricas de materiais. Este instrumento mede materiais de substrato dielétrico em frequências de 3 MHz a 6 GHz. Além de acomodar amostras de 0,3 a 3 mm de espessura.

Esta solução usa uma nova metodologia, de acordo com o Dr. John Schultz da Compass Technology, “Ao contrário das tecnologias anteriores de análise dielétrica, este novo método usa modelagem eletromagnética computacional para inverter a permissividade e perda dielétrica. Isso representa um avanço significativo em relação aos métodos convencionais, que usam aproximações analíticas e são limitados a frequências abaixo de 1 GHz. ”

A solução Epsilômetro   inclui o R60 USB VNA com software, dispositivo de medição, software Epsilômetro e amostra de calibração.

O epsilômetro pode ser usado no projeto e fabricação de materiais de circuito de:

• micro-ondas,
• antena “radomes”,
• substratos de antena
• empacotamento para dispositivos sem fio – 4G / LTE,
• WiFi,
• Bluetooth,
• 5G, IoT,
• e muitas outras aplicações.

A solução Epsilômetro foi desenvolvida em colaboração com a Compass Technology, um fornecedor líder de soluções e sistemas de medição de materiais.